Postado em 21/maio/2020
O trabalho intitulado “Reliability-Oriented Design of Modular Multilevel Converters for Medium-Voltage STATCOM”, fruto da parceria realizada entre as instituições: UFV, CEFET-MG, UFMG e Aalborg University, foi aceito para publicação no periódico IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, avaliada com Qualis A1.
O trabalho apresentou uma análise de confiabilidade aplicada em conversores modulares multiníveis. Estes conversores apresentam um alto número de componentes, que desafia o compromisso entre custo e confiabilidade no projeto do conversor. Desta forma, este trabalho apresentou uma metodologia de projeto orientada à confiabilidade, com base no custo para atingir um nível de confiabilidade predefinido.